应用领域

先进封装

先进封装是由许多工艺家族组成的系统——我们聚焦在等离子刻蚀与沉积决定可行性的工序:硅通孔(TSV)、腔体成形与低温介质薄膜。

反复出现的工艺挑战

能被干净填充的通孔

TSV 刻蚀的评判标准在其后道:轮廓、扇贝纹与孔底形貌决定衬垫、阻挡层与填充能否成功。

怕热的叠层

一旦器件与互连已经就位,之后每一层薄膜都必须在苛刻的热预算内沉积——还不能牺牲致密度与附着力。

竞争激烈、变化快的供应格局

封装设备面对强劲的本土竞争。进口平台只有在高难几何与经证明的重复性上才配得上自己的位置。

我们支持的典型工序

  • TSV 与转接板硅刻蚀
  • 腔体与柱状结构成形
  • 低温 SiO₂ / SiN PECVD
  • 应力工程介质叠层
  • 载板与重构晶圆加工

我们如何帮助

瞄准高难几何

我们在深宽比、轮廓或均匀性要求超出通用方案的地方投入——在通用方案够用的地方保持诚实。

把刻蚀连到填充

Demo 标准与后道填充及可靠性负责人一起定义,让刻蚀结果由集成结果来评判。

单证尽早落定

先进封装项目往往牵涉多个利益方。分类与单证在开始阶段就落定,进度才守得住。

第一次交流前建议准备

  • 集成方案(2.5D、3D、WLP、转接板)
  • 通孔尺寸:直径、深度、间距
  • 晶圆类型:器件片、载板、重构片
  • 热预算与薄膜要求
  • 后道填充/电镀工艺
  • 产量与验证时间表

讨论您的工艺需求

有需要讨论的结构、薄膜或热处理工序?

发一段简短的应用描述——器件类型、材料、晶圆尺寸,以及什么样的结果算好。工程师会给您一个具体的下一步。

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