製程技術
五大製程家族,同一套選型紀律
每個頁面解釋這項製程做什麼、在哪些場景創造價值,以及最重要的——區分一次好的設備決策與一次昂貴教訓的評估維度。

深矽蝕刻(Si DRIE)
深反應離子蝕刻造就了大多數 MEMS 元件、矽光平台與矽穿孔背後的高深寬比矽結構。它也是行銷數字與量產現實最容易背離的製程家族——這讓有紀律的評估變得至關重要。
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反應離子蝕刻(RIE)
RIE 及其 ICP 變體塑造著定義特殊半導體的硬質與特殊材料:SiC 溝槽、GaN 平台、壓電薄膜、光學介電。每種材料體系都會改寫規則——化學體系、損傷行為與終點控制全都不同。
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氣相 HF 釋放
最後的釋放蝕刻,是一片 MEMS 晶圓累積價值最高的時刻——也是濕式製程可能藉沾黏(stiction)毀掉它的時刻。無水氣相 HF 以乾式去除犧牲氧化層,讓結構在沒有液體毛細力的條件下獲得自由。
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PECVD 介電沉積
電漿輔助 CVD 提供把特殊元件「黏合」在一起的介電薄膜——結構層、鈍化層、光學披覆、硬光罩——而且是在晶圓上其餘部分能夠承受的溫度下完成。薄膜性質是設計出來的,不是天生的:應力、成分與均勻性對每一個製程旋鈕都有反應。
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批次熱處理
氧化、擴散、退火與 LPCVD 依然是功率元件、感測器與特殊 CMOS 製程流程安靜的基石。當溫度均勻性、氣氛控制與自動化與應用匹配時,批次爐管以單片設備無法企及的經濟性交付這些工序。
瞭解該製程有需要討論的結構、薄膜或熱處理工序?
寄來一段簡短的應用描述——元件類型、材料、晶圓尺寸,以及什麼樣的結果算好。工程師會給您一個具體的下一步。
